Спектрофотометр Shimadzu UV-3600 Plus

Артикул:
Компания Шимадзу разработала уникальный спектрофотометр для работы в УФ, видимом и ближнем ИК-диапазоне спектра. Спектрофотометр UV-3600 Plus оснащен тремя детекторами: ФЭУ для работы в ультрафиолетовой и видимой области спектра, полупроводниковый InGaAs и охлаждаемый PbS детекторы для работы в ближнем ИК-диапазоне. В дополнение к основному блоку спектрофотометра многоцелевое кюветное отделение, предназначенное для работы с образцами больших размеров, а также интегрирующая сфера оснащены тремя детекторами, что позволяет с высокой чувствительностью проводить измерение твердых образцов.
Заказать
Основные особенности

Чувствительность

Для обычных спектрофотометров, имеющих только два типа детекторов (ФЭУ и PbS), характерна потеря чувствительности в области перехода от видимой области спектра к ИК-диапазону. В случае UV-3600 Plus, благодаря наличию InGaAs детектора, обеспечивается высокая чувствительность во всем рабочем диапазоне, а уровень шума не превышает 0,00003 Abs при 1500 нм.

Разрешение, уровень рассеянного света, спектральный диапазон

Высокопроизводительная оптика прибора позволяет достичь ультранизкого уровня рассеянного света (макс. 0,00005 % при 340 нм) с высоким разрешением (максимальное разрешение: 0,1 нм). Широкий спектральный диапазон от 185 до 3300 нм позволяет работать не только в УФ и видимом диапазонах спектра, но и в ближнем ИК-диапазоне, и как результат, открывает возможности по решению широкого круга задач.

Большой выбор дополнительных аксессуаров

Многофункциональное кюветное отделение с тремя детекторами и интегрирующая сфера позволяют проводить высокочувствительные измерения твердых образцов. Приставки абсолютного зеркального отражения ASR-серии предназначены для получения высокоточных результатов измерения коэффициента отражения. В дополнение ко всему вышеперечисленному, доступны разнообразные держатели для микрокювет и держатели с возможностью регулирования температуры, что позволяет использовать спектрофотометр в разнообразных областях.

Широкие возможности применения

Измерение коэффициента пропускания объективов и линз

Tакие устройства как мобильные телефоны, цифровые камеры и камеры слежения оснащены разнообразными объективами и линзами. Коэффициент пропускания линзы является одним из факторов, который определяет характеристики объектива. Однако, поскольку линза сама фокусирует свет, то представляет собой очень сложный образец для проведения измерений и получения достоверных результатов.

Наличие у линзы фокальной плоскости приводит к тому, что свет, проходящий в спектрофотометре при измерении базовой линии, может отличаться от света, прошедшего через линзу во время измерения из-за рефракции.

В таких случаях, для более точных измерений рекомендуется работать с интегрирующей сферой, которая позволяет собрать весь свет, проходящий через линзу. Помимо этого, использование интегрирующей сферы, работающей в режиме пропускания, в комплекте с устройством BIS-603, способствует уменьшению ошибок измерений. Кроме того, с помощью V-образной платформы, входящей в стандартную комплектацию многофункционального кюветного отделения MPC-603, можно проводить измерения коэффициента пропускания линз различной длины и размеров. Как результат, MPC-603 и BIS-603 являются идеальным сочетанием для анализа линз и объективов.

Опциональные приставки для проведения измерений

Многофункциональное кюветное отделение для работы с образцами больших размеров MPC-603

Многоцелевое кюветное отделение позволяет измерять образцы различной формы и получать как спектры отражения, так и пропускания. С целью обеспечения точности измерений твердых образцов интегрирующая сфера встроена в это кюветное отделение.

ПлатформаBIS-603

Это устройство используется для установки приставок абсолютного зеркального отражения в многоцелевое кюветное отделение MPC-603.

Интегрирующая сфера ISR-603

Интегрирующая сфера ISR-603 используется для измерения спектров диффузного и зеркального отражения. Также могут быть измерены спектры пропускания твёрдых и жидких образцов.

Определение ширины запрещенной зоны

Исследование солнечных элементов и фотокаталитических материалов зачастую включает в себя измерение ширины запрещенной зоны, которая является одной из основных физических характеристик материалов. Ниже приведены спектры диффузного отражения трех полупроводниковых материалов, используемых при производстве солнечных батарей, полученные с помощью интегрирующей сферы ISR-603. Края поглощения, где длина волны отражения уменьшается, различаются в зависимости от типа образца. Эти различия указывают на разницу ширины запрещенной зоны* образцов. Значения ширины запрещенной зоны образцов рассчитаны с помощью метода Тауца и были определены как 1,63 эВ для GuGaSe2 (красная линия) 1,27 эВ для Culn0.5Ga0.5Se2 (синяя линия) и 0,99 эВ для CuInSe2 (черная линия).

Программа Excel Macro для расчета величины ширины запрещенной зоны

Большая интегрирующая сфера ISR-1503 / ISR-1503F

Диаметр интегрирующей сферы составляет 150 мм. Хорошо подходит для измерения спектров отражения таких образцов как порошки, бумага и ткани, а также для измерения цветности. Благодаря высокой стабильности исключается влияние состояния поверхности образца, что эффективно при анализе твердых образцов с высокой величиной рассеянного света, т.е. попросту характеризующихся неровной поверхностью. Помимо спектров отражения данную приставку можно использовать и для измерения спектров пропускания растворов и твердых проб.

Толстолистовое прокатное стекло используется при производстве солнечных батарей. При проведении анализа с интегрирующей сферой небольшого диаметра могут быть получены некорректные результаты в силу большого шага при переключении детектора на последующую длину волны. Использование интегрирующей сферы ISR-1503 позволяет избежать этих проблем и получать одинаковые результаты даже при условии смещения образца на 0, 45 и 90°.

Опции

 Дополнительное программное обеспечение
  • ПО DTL-UVPC для измерения пропускания солнечного света
  • ПО для измерения цветности
  • ПО для измерения толщины пленок

 Преимущества использования двойного монохроматора с голографическими решетками

Для UV-3600 Plus характерно использование голографических дифракционных решеток в двойном монохроматоре, которые предназначены для достижения высокой эффективности и низкого уровня рассеянного света. Помимо этого, голографические дифракционные решетки используются для диапазонов длин волн, которые по своей природе имеют низкую энергию, или для которых характерна более низкая чувствительность детектора. Система G-G, подразумевающая использование решеток и для пред-монохроматора, и для основного монохроматора, обеспечивает низкий уровень рассеянного света при постоянном оптимальном разрешении 0,1 нм для УФ и видимого диапазона спектра и 0,4 нм для ближней ИК-области.

Технические характеристики
Оптическая схема Двухлучевая, двойной монохроматор
Спектральный диапазон 185–3300 нм
Детекторы УФ/видимый диапазон: ФЭУ
Ближний ИК-диапазон:  InGaAs/охлаждаемый PbS
Ширина щели УФ/видимый диапазон: 8 ступенчатая; от 0,1 до 8 нм
Ближний ИК-диапазон: 10 ступенчатая; от 0,2 до 32 нм
Разрешение  0,1 нм
Уровень шума 0,00005 Abs или ниже (500 нм);
0,00008 Abs или ниже (900 нм);
0,00003 Abs или ниже (1500 нм)
Уровень рассеянного света 0,00008% (220 нм, NaI); 0,00005% (340 нм, NaNO2);
0,0005% (1420 нм, H2O); 0,005% (2365 нм, CHCl3)
Фотометрический диапазон  от –6 до +6 Abs
Фотометрическая точность  ± 0,003 Abs (при 1 Abs); ± 0,002 Abs (при 0,5 Abs)
Размер кюветного отделения 150×260×140 мм
© 2021 www.gk-analit.ru, Все права защищены.
Конфиденциальность