В обычных спектрофотометрах фотоэлектронный умножитель, используемый в качестве детектора для ультрафиолетовой и видимой области, и PbS детектор для измерений в ближнем ИК-диапазоне не могут обеспечить высокую чувствительность на границе ближнего ИК и видимого диапазонов. SolidSpec-3700/3700 DUV и SolidSpec-3700i/3700i DUV успешно решает данную проблему.
Это первые спектрофотометры для УФ-видимого и ближнего ИК-диапазона с тремя детекторами: ФЭУ + полупроводниковые на основе InGaAs и PbS. Полупроводниковые детекторы обеспечивает чрезвычайно высокую чувствительность на границе ближней ИК-области и видимого диапазона. Низкие значения шума при работе с малопрозрачными образцами делают данный спектрофотометр незаменимым. Эта особенность неоценима при исследовании плохо отражающих образцов, например, оптических волоконных материалов.
Измерения в вакуумном УФ
Спектрофотометры SolidSpec-3700 DUV/3700i DUV работают в вакуумном УФ от 165 нм (от 175 нм с интегрирующей сферой) с очень низкими значениями рассеянного света. Оптический блок и кюветное отделение продуваются азотом с целью удаления кислорода, поглощающего в области ниже 190 нм. Спектральный диапазон для измерений с использованием интегрирующей сферы — от 175 нм до 2600 нм.
Дополнительный модуль для прямого измерения в ультрафиолете (Direct detection unit DUV) позволяет расширить данный диапазон от 165 до 3300 нм и проводить измерения без использования интегрирующей сферы.
Работа с большими образцами
Большое отделение для образцов (900мм x 700мм x 350мм) позволяет удобно разместить образцы максимальной величины 700мм х 560 мм х 40 мм. Вертикальное расположение оптического пучка позволяет проводить измерения образцов, расположенных горизонтально. Возможно измерение по всей поверхности образца площадью 310 х 310 мм2. Автоматическая система перемещения образца позволяет проводить измерения в предварительно заданной точке образца с одновременной продувкой азотом. Достаточное количество необходимых приставок, таких как приставка нарушенного полного внутреннего отражения (НПВО) и др. значительно расширяют области применения данного спектрофотометра.
Исследование покрытий:
Высокочувствительные измерения от вакуумного УФ до ближнего ИК-диапазона, большое кюветное отделение для исследования изменений свойств покрытий
Полупроводники:
Анализ поверхности полупроводников
Оптические материалы:
Высокочувствительное измерение антиотражающих покрытий в ближнем ИК-диапазоне
Оптика:
Высокочувствительные измерения от вакуумного УФ до ближнего ИК-диапазона, большое кюветное отделение
| Спектральный диапазон | SolidSpec-3700/3700i: стандартные модели 240–2600 нм; с использованием приставки для прямого детектирования 190–3300 нм. | |
| SolidSpec-3700 DUV/3700i DUV: модели для измерения в глубоком УФ 175–2600 нм; с использованием приставки для прямого детектирования 165–3300 нм. | ||
| Спектральная ширина щели | 8-ступенчатая: 0,1; 0,2; 0,5; 1; 2; 3; 5; 8 нм в УФ/видимой области | |
| 10-ступенчатая: 0,2; 0,5; 1; 2; 3; 5; 8; 12; 20; 32 нм в ближней ИК области | ||
| Разрешение(*) | 0,1 нм | |
| Шаг по длине волны | от 0,01 до 5 нм | |
| Точность отображения длины волны | шаг 0,01 нм | |
| Погрешность установки длины волны(*) | ± 0,2 нм в УФ / видимой области | |
| ± 0,8 нм в ближней ИК области | ||
| Воспроизводимость длины волны(*) | ± 0,08 нм в УФ/видимой области | |
| ± 0,32 нм в ближней ИК области | ||
| Скорость сканирования длины волны | Максимально 3600 нм/ в минуту для ФЭУ и InGaAs-детектора | |
| Максимально 1600 нм/ в минуту для PbS-детектора | ||
| Переключение ламп | Автоматическое переключение (можно выбрать в интервале между 282 и 393 нм с шагом 0,1 нм) | |
| Уровень рассеянного излучения(*) | < 0,00008% (220 нм, NaI) | |
| < 0,00005% (340 нм, NaNO2) | ||
| < 0,0005% (1420 нм, H2O) | ||
| < 0,005% (2365 нм, CHCl3) | ||
| Уровень шума | 0,0002 Abs или менее (500 нм) | |
| 0,00005 Abs или менее (1500 нм), щель 8 нм, пост. времени 1 с | ||
| Колебания базовой линии | ± 0,003 Abs (от 240 до 350 нм), | |
| ± 0,002 Abs (от 350 до 1600 нм), ± 0,004 Abs (от 1600 до 2600 нм), | ||
| ± 0,001 Abs (от 200 до 3000 нм) при использовании DDU | ||
| Дрейф | SolidSpec-3700/3700i 0,0002 Abs/час (после 2 часов прогрева прибора, 500 нм, постоянная времени 1с) | |
| SolidSpec-3700 DUV/3700i DUV 0,0003 Abs/час (после 2 часов прогрева прибора, 500 нм, постоянная времени 1с) | ||
| Источники света | 50 Вт галогенная лампа (2000 часов работы) | |
| Дейтериевая лампа (1250 часов работы) Встроенное автоматическое позиционирование ламп. | ||
| Монохроматор | Двойной монохроматор с дифракционными решетками | |
| Детекторы | УФ/видимая область: ФЭУ (типа R928 для SolidSpec-3700/3700i, R955 для SolidSpec-3700 DUV/3700i DUV) | |
| Ближняя ИК область: InGaAs фотодиод и охлаждаемый PbS | ||
| Фотометрический диапазон | от –6 до 6 Abs | |
| Оптическая схема | Двухлучевая | |
| Размеры, масса | 1000 x 800 x 1200 мм (Ш х Г х В), 170 кг | |
