Главная > Каталог > Лабораторное оборудование > Аналитическое оборудование > Анализ физических параметров объектов > Анализ нанообъектов > Сканирующий зондовый микроскоп Shimadzu SPM-9700HT

Сканирующий зондовый микроскоп Shimadzu SPM-9700HT

Артикул:

Сканирующий зондовый микроскоп — это общий термин для микроскопов, сканирующих поверхность образцов чрезвычайно острым зондом для получения пространственного изображения или наблюдения локальных свойств при больших увеличениях. Модель SPM-9700HT демонстрирует улучшенные характеристики, более удобна в эксплуатации, чем предыдущие модели.
Сканирующая зондовая микроскопия (СЗМ) — один из мощных современных методов исследования формы и локальных свойств поверхности твёрдого тела. С помощью сканирующего зондового микроскопа можно получить цифровое трёх мерное изображение атомарной решётки, живой клетки, интегральной микросхемы, структуры полимера и т.д.

Заказать

Основные особенности

Сканирующий зондовый микроскоп позволяет получать трёхмерное изображение поверхности и её физических характеристик

трехмерное изображение рельефа поверхности образцов металлов, полупроводников, керамики, макромолекул и биологических объектов с увеличением в несколько тысяч или миллионов раз.
измерение значения следующих физических свойств поверхности с пространственным разрешением в доли нанометра:
- механических (силу трения, адгезию, жесткость, эластичность)
- электрических (потенциал, проводимость)
- магнитных (распределение намагниченности).

SPM-9700HT можно использовать в материаловедении, полупроводниковой промышленности, биологии, медицине, при физических и химических исследованиях.

Стандартные режимы работы сканирующего микроскопа:

Контактный режим
Режим латеральных сил
Динамический режим
Фазовый режим
Режим силовой модуляции
Силовая кривая

Опциональные режимы работы микроскопа SPM-9700HT:

Режим проводимости
Режим поверхностного потенциала (кельвин-микроскопия)
Магнитно-силовой режим (магнитно-силовая микроскопия)
Силовое картирование
Режим векторного сканирования
Режим сканирования в слое жидкости
Электрохимическая атомно-силовая микроскопия

Опции для расширения возможностей SPM-9700HT:

Оптический микроскоп с цифровой камерой
Волоконно-оптический осветитель
Блоки широко/узко-форматного и глубинного сканирования
Климатическая камера с нагревателем образцов, контролем температуры, влажности и газового состава атмосферы
Программа анализа распределения частиц по размерам

Механизм скольжения головки

Высокая стабильность & Высокая производительность позволяет всей оптической системе скользить как единое целое, сохраняя ее жесткость.

Лазер остается стабильным и освещает кантилевер даже во время замены образцов.
Конструкция устойчива к вибрациям, шуму, ветру и другим внешним возмущениям, так что нет необходимости в специальном кожухе.
Прибор включает встроенный поглотитель вибраций.

Удачное решение открывает доступ к области вокруг образца при поддержании высокой жесткости всей системы

Можно заменять образцы без удаления держателя кантилевера.
К образцам есть доступ даже во время измерения.
Высота образца настраивается автоматически, независимо от его толщины.

Визуализация 3D изображения

1. Используйте мышь для изменения масштаба и свободного вращения изображений или изменения увеличения по оси Z. Это позволяет представлять полученные данные различными способами, подтверждая эти данные в режиме реального времени.

Увеличение масштаба изображения

Вращение

Изменение увеличения по оси Z

2. Функция текстуры

Информация о высоте может быть наложена на информацию о физических свойствах. Это позволяет ясно показать соотношения между двумя параметрами.

3. Анализ профилей поперечного сечения

В 3D изображениях можно анализировать профили сечения. Если информация о физических свойствах выражена в терминах текстуры, соответствующие профили сечения могут быть показаны и проанализированы в том же месте.

Легкость выполнения операций

Революционный графический пользовательский интерфейс обеспечивает неограниченную поддержку операций, начиная от наблюдения в режиме реального времени до анализа данных в автономном режиме.

Функциональность и возможности расширения системы

Богатый выбор режимов измерения

Дополнительные возможности

WET-SPM = SPM-9700HT + климатическая камера

При добавлении климатической камеры сканирующий зондовый микроскоп SPM-9700HT превращается в систему WET-SPM.

Программное обеспечение для исследования частиц

Информационное пространство SPM:

Технические характеристики

Разрешение	X,Y: 0,2 нм; Z: 0,01 нм
Диапазоны сканирования	10 μm x 10 μm x 1 μm (стандартная комплектация)
	30 μm x 30 μm x 5 μm (опция); 125 μm x 125 μm x 7 μm (опция)
	55 μm x 55 μm x 13 μm (опция); 2,5 μm x 2,5 μm x 0,3 μm (опция)
Размеры образца	Ø 24мм х 8мм
Смена образца	Без отключения лазера и удаления кантилевера
Перемещение по оси Z	10 мм

Конфиденциальность